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Micron Document

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<title>Common-centroid-Layout</title>

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<h1 id="firstHeading" class="firstHeading mw-first-heading"><span class="mw-page-title-main">Common-centroid-Layout</span></h1>

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<div id="mw-content-text" class="mw-body-content mw-content-ltr" lang="de" dir="ltr"><div class="mw-content-ltr mw-parser-output" lang="de" dir="ltr"><p>Als <b>Common-centroid-Layout</b> (dt. etwa ‚Layout mit gemeinsamen Schwerpunkt‘) wird ein Layout bezeichnet, in dem mehrere elektrische Elemente (<a href="Transistor" title="Transistor">Transistoren</a>, <a href="Widerstand_(Bauelement)" title="Widerstand (Bauelement)">Widerstände</a>, <a href="Kondensator_(Elektrotechnik)" title="Kondensator (Elektrotechnik)">Kondensatoren</a>) in einer <a href="Integrierter_Schaltkreis" title="Integrierter Schaltkreis">integrierten Schaltung</a> so angeordnet werden, dass <a href="Elektromagnetische_Vertr%C3%A4glichkeit" title="Elektromagnetische Verträglichkeit">Störeinflüsse</a> möglichst gering bleiben. Dazu werden die Elemente in mehrere identische Teile gleicher Größe aufgespalten und so angeordnet, dass der Flächenschwerpunkt der verschiedenen Elemente im gleichen Punkt (oder zumindest möglichst nahe beieinander) liegt. Werden 4 Elemente(gruppen) genutzt, spricht man auch von einem <b>Quad-Layout</b>.

</p><p>Mit dieser Anordnung werden Störeinflüsse minimiert, indem solche Störungen (z. B. <a href="Temperaturgradient" class="mw-redirect" title="Temperaturgradient">Temperaturgradienten</a>, <a href="Dotierung" title="Dotierung">Dotierungsgradienten</a>) zwischen den Elementen gemittelt werden und linear davon abhängige Parameter der Schaltung ausgeglichen werden.

</p><p>Oft wird die Anordnung durch sog. <span lang="en"><i>dummy devices</i></span> ohne elektrische Funktion umgeben, die für möglichst gleichmäßige Umgebungsbedingungen bei der Herstellung sorgen sollen. Da, insbesondere wenn mehr als 2 Elemente mit unterschiedlichen Größen so angeordnet werden sollen, nicht immer einfache Lösungen für die Anordnung möglich sind, müssen oftmals weitere Elemente ohne Funktion zugefügt werden, um zu einem ausreichend guten Ergebnis zu gelangen.

</p><p>Andere Elementanordnungen mit ähnlichem Ziel sind: Finger-, Interdigitated-Finger- (dt. etwa ‚verflochtene Fingerstrukturen‘) oder Interdigitated Waffle-Anordnungen.<sup id="cite_ref-1" class="reference"><a href="#cite_note-1"><span class="cite-bracket">[</span>1<span class="cite-bracket">]</span></a></sup><sup id="cite_ref-2" class="reference"><a href="#cite_note-2"><span class="cite-bracket">[</span>2<span class="cite-bracket">]</span></a></sup>

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Literatur">Literatur</h2></div>

<ul><li>R. Jacob Baker: <i>CMOS: Circuit Design, Layout, and Simulation.</i> 2. Auflage, Wiley & Sons, 2007, ISBN 0-470-22941-1.</li></ul>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Einzelnachweise">Einzelnachweise</h2></div>

<li id="cite_note-1"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-1">↑</a></span> <span class="reference-text">J. Bastos, M. Steyaert, B. Graindourze, W. Sansen: <cite style="font-style:italic">Matching of MOS transistors with different layout styles</cite>. In: <cite style="font-style:italic">Proceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures</cite>. 1996, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>17–18</span>, <a href="Digital_Object_Identifier" title="Digital Object Identifier">doi</a>:<span class="uri-handle" style="white-space:nowrap"><a rel="nofollow" class="external text" href="https://doi.org/10.1109/ICMTS.1996.535615">10.1109/ICMTS.1996.535615</a></span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Common-centroid-Layout&rft.atitle=Matching+of+MOS+transistors+with+different+layout+styles&rft.au=J.+Bastos%2C+M.+Steyaert%2C+B.+Graindourze%2C+...&rft.btitle=Proceedings+of+International+Conference+on+Microelectronic+Test+Structures&rft.date=1996&rft.doi=10.1109%2FICMTS.1996.535615&rft.genre=book&rft.pages=17-18" style="display:none"> </span></span>

</li>

<li id="cite_note-2"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-2">↑</a></span> <span class="reference-text">Koen Lampaert, Georges Gielen, Willy Sansen: <cite style="font-style:italic">Analog Layout Generation for Performance and Manufacturability</cite>. Springer US, Boston, MA 1999, ISBN 1-4757-4501-X, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>43<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>ff</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Common-centroid-Layout&rft.au=Koen+Lampaert%2C+Georges+Gielen%2C+Willy+Sansen&rft.btitle=Analog+Layout+Generation+for+Performance+and+Manufacturability&rft.date=1999&rft.genre=book&rft.isbn=147574501X&rft.pages=43+ff.&rft.place=Boston%2C+MA&rft.pub=Springer+US" style="display:none"> </span></span>

</li>

</ol></div><div><div class="zim-footer">

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